Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀

產(chǎn)品介紹：

Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。

產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢：

• 同步測量薄膜的反射率/穿透率，1s內(nèi)獲得結(jié)果；

• 簡單快速、易于使用的分析優(yōu)點(diǎn)；

• 設(shè)備具有完整標(biāo)準(zhǔn)配置，確保設(shè)備高度可靠；

• 測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。

產(chǎn)品測量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：

產(chǎn)品參數(shù)：

Filmetrics薄膜厚度測量儀測量圖：